{"product_id":"kontrola-starzenia-si-281-tranzystorow-mocy-9786208939489","title":"Kontrola starzenia si\u0026#281; tranzystorów mocy","description":"\u003cp\u003e • Author(s): Tarek Ben Salah | Stéphane Lefebvre | Douha Othmen\u003cbr\u003e • Publisher: Wydawnictwo Nasza Wiedza\u003cbr\u003e • Publisher Imprint: Wydawnictwo Nasza Wiedza\u003cbr\u003e • BISAC: Electronics - General\u003c\/p\u003e\u003cp\u003eNiniejsza książka przedstawia doglębne badania eksperymentalne zachowania tranzystor�w SiC JFET w wymagających zastosowaniach lotniczych. Opisano kompletną metodologię, w tym projekt zautomatyzowanego stanowiska testowego z wykorzystaniem LabView, testy wytrzymalościowe w celu określenia energii krytycznej oraz testy przyspieszonego starzenia w celu monitorowania zmian parametr�w elektrycznych. Uzyskane wyniki podkreślają wiarygodne wskaźniki degradacji i otwierają interesujące perspektywy projektowania bardziej odpornych system�w elektronicznych w ekstremalnych środowiskach.\u003c\/p\u003e","brand":"Atlantic Books","offers":[{"title":"Paperback","offer_id":46381207191703,"sku":"9786208939489","price":5871.0,"currency_code":"INR","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0666\/3471\/1191\/files\/9786208939489.webp?v=1768771838","url":"https:\/\/atlanticbooks.com\/products\/kontrola-starzenia-si-281-tranzystorow-mocy-9786208939489","provider":"Atlantic Books","version":"1.0","type":"link"}