{"product_id":"mikroprozessorsysteme-zuverlassigkeit-testverfahren-fehlertoleranz-9783540129967","title":"Mikroprozessorsysteme: Zuverlässigkeit, Testverfahren, Fehlertoleranz","description":"\u003cp\u003e • Author(s): R. Hedtke\u003cbr\u003e • Publisher: Springer\u003cbr\u003e • Publisher Imprint: Springer\u003cbr\u003e • BISAC: Applied\u003c\/p\u003e\u003cp\u003eMit dem Einzug der Mikroelektronik in fast aile Bereiche des taglichen Lebens muB die altbekannte Tatsache, daB samtliche elektronische Systeme Fehler aufweisen kcxmen starker berucksichtigt werden. Dos Zuverlassigkeitsproblem ist dabei n icht nur bei Ge- raten der Luft- und Raumfahrt, bei Uberwachungen von Kraftwerken, Steuerungen von Signalanlagen und tlhnl ichen Anwendungen relevant, wo bei einem Versagen Men- schenleben gefahrdet sind, sondern ouch bei der ProzeBsteuerung oder NachrichtenUber- mittlung, wo technische Unzuverltlssigkeiten zu betrachtlichen wirtschaftlichen Aus- wirkungen fuhren kcsnnen. Nachdem die erste Euphorie Uber das neue Bauelement \"Mikroprozessor\" abgeklungen ist, haben viele Entwickler die enttauschende Erfahrung gemacht, daB die Mikroprozes- sorsysteme doch haufiger ausfallen 015 erwartet. Diese Beobachtungen haben im wesent- lichen zwei Ursachen: Zum einen bewirken Bauelementfehler oder Fehler, die durch unsachgemaBen Aufbau ver- ursacht wurden zumeist den Totalausfall des Mikrocomputers, ouch donn, wenn der Fehler nur kurzzeitig aufgetreten ist. Dos erklClrt sich aus der Tatsache, daB StCSrungen auf den AdreB-, Daten- oder Steuerleitungen zu Fehlinterpretationen des Mikroprozessors fuhren und somit die richtige Ablauffolge der Befehle gestCSrt wird, wenn keine besonderen Schutz- maBnahmen dagegen getroffen werden. 1m Vergleich dazu fuhren einzelne Fehler in dis- kret aufgebauten Logiksystemen oftmals nur zu einem lokal begrenzten Fehlverhalten, was somit die FunktionsfClhigkeit des Gesamtsystems nicht entscheidend beeintrachtigt, zu- mal das System bei kurzzeitig auftretenden StCSrungen meist in der gewUnschten Weise wei- terarbeitet. So bemerkt z. B.\u003c\/p\u003e","brand":"Springer","offers":[{"title":"Paperback","offer_id":47592129298583,"sku":"9783540129967","price":3776.0,"currency_code":"INR","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0666\/3471\/1191\/files\/9783540129967.webp?v=1774976401","url":"https:\/\/atlanticbooks.com\/products\/mikroprozessorsysteme-zuverlassigkeit-testverfahren-fehlertoleranz-9783540129967","provider":"Atlantic Books","version":"1.0","type":"link"}