{"product_id":"parameterextraktion-bei-halbleiterbauelementen-simulation-mit-pspice-9783658438203","title":"Parameterextraktion Bei Halbleiterbauelementen: Simulation Mit PSPICE","description":"\u003cp\u003e • Author(s): Peter Baumann\u003cbr\u003e • Publisher: Springer Vieweg\u003cbr\u003e • Publisher Imprint: Springer Vieweg\u003cbr\u003e • BISAC: Electronics - General\u003c\/p\u003e\u003cp\u003e\u003c\/p\u003e\u003cp\u003eErgänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms ORCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird ausgeführt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. In einem neuen Abschnitt werden Streuparameter-Analysen zum bipolaren HF-Transistor vorgenommen. Behandelt wird ferner die Ermittlung der Modellparameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert. Das abschlie ende neue Kapitel widmet sich der Parameterextraktion von multikristallinen, monokristallinen und Dünnschicht-Silizium-Solarzellen. \u003cbr\u003e\u003c\/p\u003e","brand":"Atlantic Books","offers":[{"title":"Paperback","offer_id":46443458789527,"sku":"9783658438203","price":2403.0,"currency_code":"INR","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0666\/3471\/1191\/files\/9783658438203.webp?v=1769126769","url":"https:\/\/atlanticbooks.com\/products\/parameterextraktion-bei-halbleiterbauelementen-simulation-mit-pspice-9783658438203","provider":"Atlantic Books","version":"1.0","type":"link"}