{"product_id":"techniken-zur-behebung-von-leckstromverlusten-in-der-letzten-stufe-und-dynamischen-ir-abfallen-9786209333019","title":"Techniken zur Behebung von Leckstromverlusten in der letzten Stufe und dynamischen IR-Abfällen","description":"\u003cp\u003e • Author(s): N. S. Murti Sarma | Petta Veera Bala Vasantha Kumar\u003cbr\u003e • Publisher: Verlag Unser Wissen\u003cbr\u003e • Publisher Imprint: Verlag Unser Wissen\u003cbr\u003e • BISAC: Electronics - General\u003c\/p\u003e\u003cp\u003eIn dieser Monografie werden die Probleme der Leckstromleistung, der Stromintegrit�t aufgrund von Ersatzzellen und Spitzen-IR-Abf�llen behandelt. Der Umfang der vorgeschlagenen L�sung liegt auf der Ebene des physikalischen Designs nahe dem Designabschluss, wo Optimierungswerkzeuge nur �ber begrenzte Ressourcen zur Behebung dieser Probleme verf�gen. Es gibt jedoch viel Spielraum f�r zuk�nftige Arbeiten in anderen Bereichen des Low-PM-Spektrums, wie z. B. auf Schaltungsebene, Architekturebene, Design-Ebene und Software-Codierungsebene. Die meisten heutigen Halbleiterentwickler sind aufgrund des Aufwands f�r die �nderung bestehender Abl�ufe und der engen Design-Zeitpl�ne nicht an sehr neuen Techniken wie Gate-Array-ECO-Abl�ufen unter Verwendung von ECO-Kits von Bibliotheksanbietern interessiert. Die vorgeschlagene Technik der \"optimalen Zustandszuweisung\" kann dazu beitragen, die Leckage von Ersatzzellen zu reduzieren, ohne die Designabl�ufe zu beeintr�chtigen, aber die Umstellung auf diese neuen Techniken wird zu einer vollst�ndigen Reduzierung der Leckleistung von Ersatzzellen beitragen. Ein weiterer m�glicher Bereich f�r zuk�nftige Untersuchungen ist die Verwendung von 65-nm-, 45-nm-, 32-nm- und 28-nm-Bibliotheken f�r die Implementierung verschiedener datenflussintensiver Architekturen, um die vorgeschlagene Technik der \"selektiven Glitch-Reduzierung\" zu validieren.\u003c\/p\u003e","brand":"Verlag Unser Wissen","offers":[{"title":"Paperback","offer_id":47575170515095,"sku":"9786209333019","price":5298.0,"currency_code":"INR","in_stock":true}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0666\/3471\/1191\/files\/9786209333019.webp?v=1774897376","url":"https:\/\/atlanticbooks.com\/products\/techniken-zur-behebung-von-leckstromverlusten-in-der-letzten-stufe-und-dynamischen-ir-abfallen-9786209333019","provider":"Atlantic Books","version":"1.0","type":"link"}