Skip to content

Booksellers & Trade Customers: Sign up for online bulk buying at trade.atlanticbooks.com for wholesale discounts

Booksellers: Create Account on our B2B Portal for wholesale discounts

Techniki radzenia sobie z wyciekiem w ostatnim etapie i dynamicznym spadkiem IR

by N. S. Murti Sarma , Petta Veera Bala Vasantha Kumar
Save 12% Save 12%
Current price ₹5,298.00
Original price ₹6,042.00
Original price ₹6,042.00
Original price ₹6,042.00
(-12%)
₹5,298.00
Current price ₹5,298.00

Imported Edition - Ships in 18-21 Days

Free Shipping in India on orders above Rs. 500

Request Bulk Quantity Quote
+91
Book cover type: Paperback
  • ISBN13: 9786209330452
  • Binding: Paperback
  • Subject: N/A
  • Publisher: Wydawnictwo Nasza Wiedza
  • Publisher Imprint: Wydawnictwo Nasza Wiedza
  • Publication Date:
  • Pages: 108
  • Original Price: GBP 47.76
  • Language: Polish
  • Edition: N/A
  • Item Weight: 155 grams
  • BISAC Subject(s): Electronics / General

W niniejszej monografii om�wiono problemy związane z mocą rozpraszaną, integralnością zasilania spowodowaną zapasowymi ogniwami oraz szczytowym spadkiem IR. Zakres proponowanego rozwiązania obejmuje poziom projektowania fizycznego zbliżony do zamknięcia projektu, gdzie narzędzia optymalizacyjne mają ograniczone zasoby do rozwiązania tych problem�w. Istnieje jednak wiele możliwości dalszych prac w innych obszarach o niskim spektrum PM, takich jak poziom obwod�w, poziom architektury, poziom projektowania i poziom kodowania oprogramowania. Większośc wsp�lczesnych projektant�w p�lprzewodnik�w nie jest zainteresowana najnowszymi technikami, takimi jak przeplywy ECO macierzy bramek przy użyciu zestaw�w ECO dostarczanych przez dostawc�w bibliotek, ze względu na wysilek związany z modyfikacją istniejących przeplyw�w i napięte harmonogramy projektowania. Proponowana technika "optymalnego przypisywania stan�w" może pom�c w zmniejszeniu uplywu energii w kom�rkach zapasowych bez wplywu na przeplywy projektowe, ale przejście na te nowe techniki pomoże w calkowitej redukcji uplywu energii w kom�rkach zapasowych. Innym możliwym obszarem przyszlych badań jest wykorzystanie bibliotek 65 nm, 45 nm, 32 nm i 28 nm do implementacji r�żnych architektur o intensywnym przeplywie danych w celu walidacji proponowanej techniki "selektywnej redukcji zakl�ceń".

Trusted for over 49 years

Family Owned Company

Secure Payment

All Major Credit Cards/Debit Cards/UPI & More Accepted

New & Authentic Products

India's Largest Distributor

Need Support?

Whatsapp Us