Skip to content

Booksellers & Trade Customers: Sign up for online bulk buying at trade.atlanticbooks.com for wholesale discounts

Booksellers: Create Account on our B2B Portal for wholesale discounts

Analytische Transmissionselektronenmikroskopie: Eine Praxisbezogene Einführung

by Jürgen Thomas , Thomas Gemming
Save 35% Save 35%
Current price ₹2,265.00
Original price ₹3,484.00
Original price ₹3,484.00
Original price ₹3,484.00
(-35%)
₹2,265.00
Current price ₹2,265.00

Imported Edition - Ships in 12-14 Days

Free Shipping in India on orders above Rs. 500

Request Bulk Quantity Quote
+91
Book cover type: Paperback
  • ISBN13: 9783662667224
  • Binding: Paperback
  • Subject: N/A
  • Publisher: Springer Spektrum
  • Publisher Imprint: Springer Spektrum
  • Publication Date:
  • Pages: 392
  • Original Price: EUR 30.83
  • Language: German
  • Edition: 2. Aufl. 2023
  • Item Weight: 577 grams
  • BISAC Subject(s): Chemistry / Analytic

Das Buch wendet sich an alle, egal ob im Studium, in technischen Berufen, oder in der Wissenschaft, die die sich für die analytische Transmissionselektronenmikroskopie interessieren und einen Überblick über diese Methode erhalten möchten. Insbesondere betrifft dies Personen, die an einem Transmissionselektronenmikroskop arbeiten wollen oder müssen, die aber noch keine spezielle elektronenmikroskopische Ausbildung durchlaufen haben. Das Buch basiert auf den Erfahrungen der Autoren bei der Unterrichtung von Studierenden, Promovierenden und in technischen Berufen Tätigen. Der Überblick über die analytische Transmissionselektronenmikroskopie umfasst die Schwerpunkte Optische Abbildung, Elektronenwellen, magnetische Linsen, Abbildungsfehler, Aufbau eines Transmissionselektronenmikroskops, Präparation dünner Proben, Justage des Mikroskops, Elektronenbeugung, Kontrastentstehung, Höchstauflösungselektronenmikroskopie, Rastertransmissionselektronenmikroskopie sowie Analytik mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie und Elektronenenergieverlust-Spektroskopie. Ein mathematischer Anhang erklärt grundlegende Formalismen zur Thematik.

Jürgen Thomas studierte an der Technischen Universität Dresden Physik. Bereits im Studium schloss er Bekanntschaft mit der Elektronenmikroskopie und diplomierte und promovierte bei Prof. Alfred Recknagel in Dresden mit Arbeiten zur Elektronenmikroskopie und zu Elektron-Festkörper-Wechselwirkungen. Anschließend war er in der Industrieforschung für die Entwicklung von Elektronenstrahlschweiß- und Vakuumtechnologien verantwortlich. Nach einigen Jahren wandte er sich wieder der Elektronenmikroskopie zu und trat in das jetzige Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung (IFW) Dresden ein, wo er mehrere Jahrzehnte im Labor für analytische Transmissionselektronenmikroskopie arbeitete.
Thomas Gemming studierte an der Technischen Hochschule Karlsruhe Physik. Er promovierte auf dem Gebiet der höchstauflösenden Transmissionselektronenmikroskopie am Max-Planck-Institut für Metallforschung in Stuttgart bei Prof. Manfred Rühle. Anschließend erweiterte er als wissenschaftlicher Mitarbeiter sein Arbeitsgebiet auf die analytische Elektronenmikroskopie. Wenig später wechselte er an das Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung (IFW) Dresden, wo er heute die Abteilung Strukturanalyse leitet. Außerdem ist er Geschäftsführer der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V.

Trusted for over 49 years

Family Owned Company

Secure Payment

All Major Credit Cards/Debit Cards/UPI & More Accepted

New & Authentic Products

India's Largest Distributor

Need Support?

Whatsapp Us