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Conceptions VLSI tolérantes aux variations de processus

by Vikas Mahor
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Book cover type: Paperback
  • ISBN13: 9786209965296
  • Binding: Paperback
  • Subject: N/A
  • Publisher: Editions Notre Savoir
  • Publisher Imprint: Editions Notre Savoir
  • Publication Date:
  • Pages: 68
  • Original Price: GBP 42.0
  • Language: French
  • Edition: N/A
  • Item Weight: 105 grams
  • BISAC Subject(s): Electronics / General

Les portes dynamiques constituent un excellent choix pour la conception de modules haute performance dans les microprocesseurs modernes. Leur seule limite r�side dans leur marge de bruit relativement faible par rapport � celle des portes CMOS standard. Traditionnellement, ce probl�me a �t� r�solu en utilisant un circuit de maintien pMOS qui compense le courant de fuite du r�seau nMOS de mise � la masse. Dans les noeuds technologiques ant�rieurs, le circuit de maintien pouvait am�liorer la fiabilit� des portes dynamiques avec une perte de performance mineure. Cependant, les tendances � la miniaturisation agressive de la technologie CMOS, associ�es � des niveaux croissants de variations de processus, ont r�duit l'efficacit� de l'approche traditionnelle par circuit de maintien. Ce probl�me est plus grave dans les portes dynamiques � large fan-in en raison du grand nombre de dispositifs nMOS pr�sentant des fuites connect�s au noeud dynamique. Dans ce travail, une porte OU dynamique � large fan-in tol�rante aux variations de processus est propos�e, avec deux nouvelles conceptions de circuits de maintien capables de r�duire la contention entre le circuit de maintien et le PDN et, par cons�quent, de r�duire la dissipation de puissance et le retard.

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