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Desenvolvimento de filmes finos de óxido de níquel para deteção de gases ambientais

by Ravishankar Ramesh Ambi
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Book cover type: Paperback
  • ISBN13: 9786630081169
  • Binding: Paperback
  • Subject: N/A
  • Publisher: Edicoes Nosso Conhecimento
  • Publisher Imprint: Edicoes Nosso Conhecimento
  • Publication Date:
  • Pages: 72
  • Original Price: GBP 42.0
  • Language: Portuguese
  • Edition: N/A
  • Item Weight: 109 grams
  • BISAC Subject(s): Physics / General

Este livro trata da s�ntese e carateriza��o do NiO depositado pelo m�todo de Deposi��o por Banho Qu�mico usando solu��o de Ni(NO3)2.6H2O. A investiga��o por difra��o de raios X mostrou uma estrutura cristalina c�bica de NiO com orienta��o preferencial ao longo de (200). As imagens de microscopia eletr�nica de varrimento revelaram uma morfologia de estrutura porosa composta por nanofolhas. A rede de nanofolhas ligadas e de espa�os vazios oferece um grande n�mero de vias e locais mais reactivos para a difus�o de g�s. A imagem TEM revela um tamanho m�dio de 5 nm para o NiO. A AFM revela uma rugosidade de 107,9 nm para o NiO depositado a 7 h. A medi��o BET indica uma �rea de superf�cie espec�fica de 110,42 m2g-1. O estudo XPS mostrou a presen�a de estados qu�micos mistos Ni2+ e Ni3+ de Ni a cerca de 853,70 e 855,44 eV, respetivamente, na superf�cie de NiO devido � n�o estequiometria do filme. A energia do intervalo de banda direta de cerca de 3,6-3,7 eV foi obtida por medi��o UV-Vis para todas as pel�culas de NiO. Obteve-se uma resposta de 45,6% a 100 ppm de NO2 a 200 C com T_response = 13 s e T_recovery = 146 s. A resposta mais elevada de 45,6% a 100 ppm de NO2 mostrou que o NiO � um bom candidato para a monitoriza��o ambiental a uma temperatura de trabalho moderada de 200 C.

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