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Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik

by Olaf Schmidt
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Book cover type: Paperback
  • ISBN13: 9783867461948
  • Binding: Paperback
  • Subject: N/A
  • Publisher: Examicus Verlag
  • Publisher Imprint: Examicus Verlag
  • Publication Date:
  • Pages: 96
  • Original Price: USD 68.5
  • Language: German
  • Edition: N/A
  • Item Weight: 137 grams
  • BISAC Subject(s): Languages / General

Diplomarbeit aus dem Jahr 1999 im Fachbereich Informatik - Technische Informatik, Note: 1, Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universität Bonn, Sprache: Deutsch, Abstract: Methoden der Bildverarbeitung werden in der Materialforschung benutzt, um Verzerrungen atomarer Grö enordnung vorwiegend in kristallinen Halbleiterheterostrukturen lokal quantitativ zu erfassen. Damit lassen sich andere Grö en wie lokale Gitterkonstanten und lokale Konzentrationen errechnen und Rückschlüsse auf Wachstumseigenschaften ziehen. Diese Informationen werden benötigt, um bestimmte Eigenschaften der Heterostrukturen zu verbessern, die die Grundlage elektronischer und optoelektronischer Bauelemente wie hochintegrierter Mikrochips, Halbleiterlaser und Leuchtdioden sind.

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